• автор: pasha-kot86  
  • 13 февраля, 15:02   
  •   0   
  •  4582 
Дипломный проект "Микроэлектроника"   АТП

Дипломный проект
На тему: “Исследование внешних характеристик интегральных логических схем для проведения лабораторных работ по курсу микроэлектроника”
Дипломное задание на проект

1. Тема дипломного проекта “Исследование внешних характеристик интегральных логических схем для проведения лабораторных работ по курсу микроэлектроника”

2. Исходные данные Н.А. Аваев. Основы микроэлектроники. -М.: Радио и связь, 1991. Щука А.А. Электроника. - СПб.: БХВ-Петербург,2005. Новожилов О.П Основы цифровой техники/ Учебное пособие. –М.: ИП РадиоСофт, 2004.

3. Перечень подлежащих разработке вопросов:

3.1. По специальной части проекта. Исследовать работу логических элементов с помощью программно-аппаратного комплекса NI ELVIS. Снять основные характеристики и определить параметры характеризующие их применение.

3.2. По экономике и организации производства: Определение времени и затрат основных этапов НИР. Определение капитальных затрат. Определение экономического эффекта
3.3. По безопасности жизнедеятельности Анализ влияния производственных факторов на организм человека. Защита от опасных факторов при работе с устройством.

4. Использование ЭВМ (примерный объем в часах) 300

5. Перечень графического материала Электрическая схема диодно-транзисторной логики и её характеристики. Электрическая схема транзисторно-транзисторной логики и её характеристики. Электрическая схема транзисторно-транзисторной логики с диодами Шотки и её характеристики. Электрическая схема эмиттерно-связанной логики и её характеристики. Электрическая схема инвертора на комплементарных транзисторах и её характеристики. Внешние характеристики диодно-транзисторной логики. Внешние характеристики транзисторно-транзисторной логики. Внешние характеристики транзисторно-транзисторной логики с диодами Шотки. Внешние характеристики инверторатра на комплементарных транзисторах. Внешние характеристики эмиттерно-связанной логики. Схемы подключения ЛЭ для снятия внешних характеристик.



Содержание:

Введение……………………………………………………………….....……10
1 Обзор существующих методов исследования логических
элементов………………………………………………………………12
1.1 Исследование типовых логических элементов на
стенде «Электроника»………..…………………………………….…12
1.2 Исследование логических элементов с помощью пакета
прикладных программ Electronics Workbench………………….......16
1.2.1 Указания по организации самостоятельной работы………………...16
1.2.2 Достоинства и недостатки основных типов логических схем….......15
1.2.3 Порядок выполнения лабораторной работы…………………………19
1.3 Обоснование необходимости
исследования логических элементов…………………………………20
1.4 Недостатки существующих методов исследования………..………...21
2. Постановка задачи и основные требования………………………... ..22
2.1 Постановка задачи…………………………………………...…………22
2.2 Методика построения лабораторной работы .………………...……...22
2.3 Основные принципы выполнения задания…………………………....23
3. Специальная часть………………………………………………..…..…24
3.1 Выбор Логических элементов…………………………………..………24
3.1.1 Способы представления логических переменных………………….....24
3.2 Экспериментальные исследования………………………………..…....28
3.2.1 Программный пакет LabVIEW……………………………….………....28
3.2.2 Система NI ELVIS……………………………………………….………30
3.3 Общие рекомендации по исследованию характеристик
логических элементов…………………………………………...………31
3.3.1 Исследование динамической характеристики………………….……...31
3.3.2 Исследование входной характеристики………………………….…….32
3.3.3 Исследование выходных характеристик………………………….…....33
3.3.4 Исследование передаточной характеристики………………….……....34
3.4 Исследование внешних характеристик
диодно-транзисторной логики………………………………..……….46
3.4.1 Исследование динамической характеристики………………….….…46
3.4.2 Исследование передаточной характеристики………………….……..48
3.4.2.1 Методика определения основных
параметров по передаточной характеристике…………………………48
3.4.3 Исследование входной характеристики……………………….……...50
3.4.4 Исследование выходных характеристик……………………….……..51
3.5 Исследование внешних характеристик
транзисторно-транзисторной логики…………………….……………53
3.5.1 Исследование динамической характеристики……………………… 54
3.5.2 Исследование передаточной характеристики………………….…….55
3.5.3 Исследование входной характеристики………………………..……..55
3.5.4 Исследование выходных характеристик………………….………….55
3.6 Исследование внешних характеристик
транзисторно-транзисторной логики с диодами Шотки……..…....…58
3.6.1 Исследование динамической характеристики………………………..58
3.6.2 Исследование передаточной характеристики………………….…......60
3.6.3 Исследование входной характеристики………………………….........61
3.6.4 Исследование выходных характеристик…………………...………....62
3.7 Исследование внешних характеристик
эмиттерно-связанной логики………………………………..…….…...62
3.7.1 Исследование динамической характеристики……………………..….62
3.7.2 Исследование передаточной характеристики……………….……...…62
3.7.3 Исследование входной характеристики…………………….…….…...63
3.7.4 Исследование выходных характеристик…………………………………..……..…..64
3.8 Исследование внешних характеристик инверторов
на комплементарных транзисторах……………… ………….….…....67
3.8.1 Исследование динамической характеристики………………..…….....67
3.8.2 Исследование передаточной характеристики……………….….…..…68
3.8.3 Исследование входной характеристики……………………….….…...68
3.8.4 Исследование выходных характеристик……………………….…....…69
4. Безопасность жизнедеятельности и охрана
окружающей среды……………………………………………...............71
4.1 Правовые и нормативно-технические акты охраны труда РФ…....…. 71
4.2 Вредные и опасные факторы на рабочем месте………………..…....…73
4.3 Охрана окружающей среды……………………………………..…….…75
4.3.1 Загрязнение компьютерным ломом…………………………….….……75
4.3.2 Переработка компьютерного лома………………………………..…….77
4.3.3 Зарубежные нормативы по экологии ПК…………………….…….…...78
4.4 Расчетная часть……………………………………………………...……78
4.4.1 Расчет необходимого искусственного освещения………………..….…78
4.4.2 Расчет информационной нагрузки программиста………………...……80
5. Организационно-экономическая часть
научно-исследовательских работ………………………………...….…...83
5.1 График основных этапов проведения НИР и расчет затрат………...….84
5.2 Определение капитальных затрат сравниваемых вариантов……. …....88
5.3 Определение эксплуатационных затрат
сравниваемых вариантов……………………………………………….…88
5.4 Определение экономического эффекта……………………………….….89
Заключение………………………………………………………………………91
Список использованной литературы…………………………………...….…...92
Приложение 1…………………………………………………………...….……93
Приложение 2…………………………………………………………………..121


Скачать:



Посетители, находящиеся в группе Гости, не могут оставлять комментарии к данной публикации.